Gutscheinbedingungen

**Gültig am 28.06.2026 auf Spielzeug, Schreibwaren, Filme, Geschenke & Trends, Musik, tolino eReader & Zubehör, Hörbücher und Hörbuch-Downloads (außer Abo), nicht preisgebundene Bücher und Kalender online auf thalia.at und in der Thalia App. Einzelne Artikel können ausgeschlossen sein. Aufgrund der Buchpreisbindung sind deutschsprachige Bücher und eBooks ausgenommen. Zusätzlich ausgenommen sind preisgebundene Artikel, Abos & Flatrates, eBooks, Games, Geschenkkarten/-boxen, Shelfies, Software, Zeitschriften sowie einzelne Artikel von tonies®. Pro Einkauf einmal einlösbar. Click & Collect nur bei Onlinevorabzahlung möglich. Keine Barauszahlung. Nicht kombinierbar mit anderen Aktionen und Gutscheinen. Gutschein wird auf max. 500€ Bestellwert angerechnet. Nicht gültig für Versandkosten und Services.

  • Produktbild: Circuit Design for Reliability
  • Produktbild: Circuit Design for Reliability
- 12%

Circuit Design for Reliability

12% sparen

95,99 € UVP 109,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

08.11.2014

Abbildungen

VI, 190 illus., 132 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen

Herausgeber

Ricardo Reis + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

272

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,1 cm

Gewicht

588 g

Auflage

2015

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4614-4077-2

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

08.11.2014

Abbildungen

VI, 190 illus., 132 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

272

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,1 cm

Gewicht

588 g

Auflage

2015

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4614-4077-2

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: GPSR Kontakt

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen

Informationen zu Bewertungen

Zur Abgabe einer Bewertung ist eine Anmeldung im Konto notwendig. Die Authentizität der Bewertungen wird von uns nicht überprüft. Wir behalten uns vor, Bewertungstexte, die unseren Richtlinien widersprechen, entsprechend zu kürzen oder zu löschen.

Die Bewertungen sind nach Format, Anzahl Sterne und Datum sortiert.

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kund*innen durch Ihre Meinung

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen filtern

  • Produktbild: Circuit Design for Reliability
  • Produktbild: Circuit Design for Reliability
  • Introduction.- Recent Trends in Bias Temperature Instability.- Charge trapping phenomena in MOSFETS: From Noise to Bias Temperature Instability.- Atomistic Simulations on Reliability.- On-chip characterization of statistical device degradation.- Circuit Resilience Roadmap.- Layout Aware Electromigration Analysis of Power/Ground Networks.- Power-Gating for Leakage Control and Beyond.- Soft Error Rate and Fault Tolerance Techniques for FPGAs.- Low Power Robust FinFET-based SRAM Design in Scaled Technologies.- Variability-Aware Clock Design.