Vor Ort
Merkzettel Warenkorb
  • Produktbild: High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
  • Produktbild: High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science

High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science

51,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.09.1998

Abbildungen

IX, 190 p.

Verlag

Springer Tokyo

Seitenzahl

190

Maße (L/B/H)

28/21/1,2 cm

Gewicht

513 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1998

Sprache

Englisch

ISBN

978-4-431-70234-4

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.09.1998

Abbildungen

IX, 190 p.

Verlag

Springer Tokyo

Seitenzahl

190

Maße (L/B/H)

28/21/1,2 cm

Gewicht

513 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1998

Sprache

Englisch

ISBN

978-4-431-70234-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
  • Produktbild: High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
  • 1. Basis of High-Resolution Electron Microscopy.- 1.1 Principles of Transmission Electron Microscopy.- 1.2 Electron Scattering and Fourier Transform.- 1.3 Formation of High-Resolution Images.- 1.4 Computer Simulation of High-Resolution Images.- References.- 2. Practice of High-Resolution Electron Microscopy.- 2.1 Classification of High-Resolution Images.- 2.2 Practice in Observing High-Resolution Images.- References.- 3. Application of High-Resolution Electron Microscopy.- 3.1 High-Resolution Images of Various Defects.- 3.2 High-Resolution Images of Various Materials.- References.- 4. Peripheral Instruments and Techniques for High-Resolution Electron Microscopy.- 4.1 Image Processing.- 4.2 Quantitative Analysis.- 4.3 Electron Diffraction.- 4.4 Weak-Beam Method.- 4.5 Evaluation of the Performance of Electron Microscopes.- 4.6 Specimen Preparation Techniques.- References.- Appendixes.- Appendix A. Physical Constants, Conversion Factors and Electron Wavelength.- Appendix B. Geometry of Crystal Lattice.- Appendix C. Typical Structures in Materials and Their Electron Diffraction Patterns.- Appendix D. Properties of Fourier Transform.- Appendix E. Sign Conventions.