KI-Beratung Beta

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System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

19.09.2012

Abbildungen

XXII, 250 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

250

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,8 cm

Gewicht

524 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4614-1358-5

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Erscheinungsdatum

19.09.2012

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250

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,8 cm

Gewicht

524 g

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Englisch

ISBN

978-1-4614-1358-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Introduction.- Modeling and Specification of SoC Designs.- Automated Generation of Directed Tests.- Functional Test Compaction.- Property Clustering and Learning Techniques.- Decision Ordering Based Learning Techniques.- Synchronized Generation of Directed Tests.- Learning-Oriented Property Decomposition Approaches.- Directed Test Generation for Multicore Architectures.- Test Generation for Cache Coherence Validation.- Reuse of System-Level Tests for Implementation Validation.- Conclusion.