Produktbild: Signal Processing
Band 22 - 11%

Signal Processing Part I: Signal Processing Theory

11% sparen

77,99 € UVP 88,00 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

20.02.1990

Herausgeber

Louis Auslander + weitere

Verlag

Springer New York

Seitenzahl

251

Maße (L/B/H)

1,7/16/24 cm

Gewicht

560 g

Auflage

1990

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-387-97215-2

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

20.02.1990

Herausgeber

Verlag

Springer New York

Seitenzahl

251

Maße (L/B/H)

1,7/16/24 cm

Gewicht

560 g

Auflage

1990

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-387-97215-2

Herstelleradresse

Springer Heidelberg
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE
buchhandel-buch@springer.com

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

  • Produktbild: Signal Processing
  • I: Signal Processing Theory.- Wide-band ambiguity function and ax + b group.- On finite Gabor expansion of signals.- Two dimensional FFT algorithms on data admitting 90°-rotational symmetry.- Displacement structure for Hankel- and Vandermonde-like matrices.- Wavelet analysis and signal processing.- Estimating interesting portions of the ambiguity function.- The band method for extension problems and maximum entropy.- On the complexity of pattern recognition algorithms on a tree-structured parallel computer.- Soliton mathematics in signal processing.- Selective ‘complex’ reflectionless potentials.- Wavelets and frames.- Linear and polynomial methods in motion estimation.- Positive definite completions: A guide to selected literature.- An existence theorem and lattice approximations for a variational problem arising in computer vision.- Extension problems under the displacement structure regime.- Recent extension of the sampling theorem.- Generalized split Levinson, Schur, and lattice algorithms for estimation and inverse scattering.