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Produktbild: Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
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Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines

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95,99 € UVP 109,99 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.10.2010

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

192

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

320 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st edition 2009

Sprache

Englisch

ISBN

978-90-481-8491-0

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.10.2010

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

192

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

320 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st edition 2009

Sprache

Englisch

ISBN

978-90-481-8491-0

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • 1 Introduction. 2 Preliminaries. 2.1 Circuits. 2.2 Fault Models. 2.3 Simple ATPG Framework. 2.4 Classical ATPG Algorithms. 2.5 Benchmarking. 3 Boolean Satisfiability. 3.1 SAT Solver. 3.2 Advances in SAT.3.3 Circuit-to-CNF Conversion. 3.4 Circuit-oriented SAT. 4 SAT-based ATPG. 4.1 Basic Problem Transformation. 4.2 Structural Information. 4.3 Experimental Results. 4.4 Summary. 5 Learning Techniques. 5.1 Introductory Example. 5.2 Concepts for Reusing Learned Information. 5.3 Heuristics for ATPG. 5.4 Experimental Results. 5.5 Summary. 6 Multiple-valued Logic. 6.1 Four-Valued Logic. 6.2 Multi-input Gates. 6.3 Experimental Results. 6.4 Summary. 7 Improved Circuit-to-CNF Conversion. 7.1 Hybrid Logic. 7.2 Incremental Instance Generation. 7.3 Experimental Results. 7.4 Summary. 8 Branching Strategies. 8.1 Standard Heuristics of SAT Solvers. 8.2 Decision Strategies. 8.3 Experimental Results. 8.4 Summary. 9 Integration into Industrial Flow. 9.1 Industrial Environment. 9.2 Integration of SAT-based ATPG. 9.3 Test Pattern Compactness. 9.4 Experimental Results. 9.5 Summary. 10 Delay Faults. 10.1 Transition Delay. 10.2 Path Delay. 10.3 Encoding Efficiency for Path Delay Faults. 10.4 Incremental Approach. 10.5 Experimental Results. 10.6 Summary. 11 Summary and Outlook. Bibliography. Index.