Vor Ort
Merkzettel Warenkorb

Gutscheinbedingungen

**Gültig bis 28.07.2026 auf Spielzeug, Schreibwaren, Filme, Geschenke & Trends, Musik, tolino eReader & Zubehör, Hörbücher und Hörbuch-Downloads (außer Abo), nicht preisgebundene Bücher und Kalender in der Thalia App. Einzelne Artikel können ausgeschlossen sein. Aufgrund der Buchpreisbindung sind deutschsprachige Bücher und eBooks ausgenommen. Zusätzlich ausgenommen sind preisgebundene Artikel, Abos & Flatrates, eBooks, Games, Geschenkkarten/-boxen, Shelfies, Software, Zeitschriften sowie einzelne Artikel von tonies®. Pro Einkauf einmal einlösbar. Click & Collect nur bei Onlinevorabzahlung möglich. Keine Barauszahlung. Nicht kombinierbar mit anderen Aktionen und Gutscheinen. Gutschein wird auf max. 500€ Bestellwert angerechnet. Nicht gültig für Versandkosten und Services.
Produktbild: Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance

Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance

152,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

06.01.2016

Verlag

Springer New York

Seitenzahl

300

Auflage

2016

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-8314-5

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

06.01.2016

Verlag

Springer New York

Seitenzahl

300

Auflage

2016

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-8314-5

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: GPSR Kontakt

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance
  • Introduction.- Fundamentals of VLSI Testing.- Circuit Marginality and Noise Sources.- Fault Modeling for Intermittent Errors.- Automatic Test Pattern Generation.- Design-for-Testability.- Test Economics and Cost-Benefit Analysis.- Layout Level Fault Tolerance.- Circuit Level Fault Tolerance.- Gate Level Fault Tolerance.- System Level Fault Tolerance.- Information Level Fault Tolerance.