Produktbild: Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance

Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance

152,99 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

06.01.2016

Verlag

Springer New York

Seitenzahl

300

Auflage

2016

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-8314-5

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Erscheinungsdatum

06.01.2016

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Springer New York

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300

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2016

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Englisch

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978-1-4419-8314-5

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • Produktbild: Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance
  • Introduction.- Fundamentals of VLSI Testing.- Circuit Marginality and Noise Sources.- Fault Modeling for Intermittent Errors.- Automatic Test Pattern Generation.- Design-for-Testability.- Test Economics and Cost-Benefit Analysis.- Layout Level Fault Tolerance.- Circuit Level Fault Tolerance.- Gate Level Fault Tolerance.- System Level Fault Tolerance.- Information Level Fault Tolerance.