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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

27.09.2011

Abbildungen

XVIII, 212 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

212

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,8 cm

Gewicht

518 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-8296-4

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Erscheinungsdatum

27.09.2011

Abbildungen

XVIII, 212 p.

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Springer Us

Seitenzahl

212

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,8 cm

Gewicht

518 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-8296-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Introduction to VLSI Testing.- Delay Test and System-Delay Defects.- Long Path-Based Hybrid Method.- Process Variations- and Crosstalk-Aware Pattern Selection.- Power Supply Noise- and Crosstalk-Aware Hybrid Method.- SDD-Based Hybrid Method.- Maximizing Crosstalk Effect on Critical Paths.- Maximizing Power Supply Noise on Critical Paths.- Faster-than-at-speed Test.- Introduction to Diagnosis.- Diagnosing Noise-Induced SDDs by Using Dynamic SDF.