Produktbild: Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials Scanning Probe Microscopy Approach

151,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

15.12.2010

Herausgeber

Marin Alexe + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

282

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,7 cm

Gewicht

458 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-05844-8

Beschreibung

Rezension

From the reviews:



"The aim of this book is to present recent advances in nanoscale characterization of electrical, mechanical and optical properties of ferroelectric materials made possible due to the use of the SPM techniques. … will be a useful reference for advanced readers as well for newcomers and graduate students interested in the SPM techniques. … The book succeeds in being informative, balanced and intelligent … . The references at the end of each chapter also make the book consistently informative and steadily rewarding." (Current Engineering Practice, Vol. 47 (3), 2004-2005)

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

15.12.2010

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

282

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,7 cm

Gewicht

458 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-05844-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • 1 Electric Scanning Probe Imaging and Modification of Ferroelectric Surfaces.- 2 Challenges in the Analysis of the Local Piezoelectric Response.- 3 Electrical Characterization of Nanoscale Ferroelectric Structures.- 4 Nanoscale Optical Probes of Ferroelectric Materials.- 5 Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Investigation of Ferroelectric Polarization.- 6 Nanoscale Piezoelectric Phenomena in Epitaxial PZT Thin Films.- 7 Scanning Probe Microscopy of Ferroelectric Domains near Phase Transitions.- 8 Nanodomain Engineering in Ferroelectric Crystals Using High Voltage Atomic Force Microscopy.- 9 Nanoinspection of Dielectric and Polarization Properties at Inner and Outer Interfaces in PZT Thin Films.