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  • Produktbild: Debugging at the Electronic System Level
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Debugging at the Electronic System Level

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

05.07.2010

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

199

Maße (L/B/H)

24,1/16,5/2 cm

Gewicht

487 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-90-481-9254-0

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Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

05.07.2010

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

199

Maße (L/B/H)

24,1/16,5/2 cm

Gewicht

487 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-90-481-9254-0

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • List of Figures. List of Tables. Preface. Acknowledgements.
    1. INTRODUCTION; 1 General Objective of the Book; 2 Summary of Contributions; 3 Book Outline. 2. ESL DESIGN AND VERIFICATION; 1 ESL Design; 2 ESL Verification; 3 Our Debugging Approach. 3. EARLY ERROR DETECTION; 1 Deduction Techniques in a Nutshell; 2 Static Analysis Framework; 3 SystemC Design Analysis System; 4 Experimental Results; 5 Summary and Future Work. 4. HIGH-LEVEL DEBUGGING AND EXPLORATION; 1 Observation Techniques in a Nutshell; 2 System-Level Debugging; 3 High-Level SystemC Debugging; 4 Experimental Results; 5 Summary and Future Work. 5. LEARNING ABOUT THE DESIGN; 1 Induction Techniques in a Nutshell; 2 Automatic Generation of Properties; 3 Dynamic Invariant Analysis on Simulation Traces; 4 Experimental Results; 5 Summary and Future Work. 6. ISOLATING FAILURE CAUSES; 1 Experimentation Techniques in a Nutshell; 2 Automatic Isolation of Failure Causes; 3 Automatic Isolation of Failure Causes in SystemC; 4 Experimental Results; 5 Summary and Future Work. 7. SUMMARY AND CONCLUSION.
    Appendix A. FDC Language ; 1 FDC Syntax ; 2 FDC Semantic.
    Appendix B. Debug Pattern Catalog; 1 General Format; 2 COMPETITION Pattern; 3 TIMELOCK Pattern.
    References. List of Acronyms. Index of Symbols. Index.