Gupta, A: Semiconductor Memory Testing Fault Models and Test Considerations for High Performance Embedded SRAM's
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44,99 €
UVP
50,40 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
30.09.2009
Verlag
VDMSeitenzahl
64
Maße (L/B/H)
22/15/0,4 cm
Gewicht
114 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-639-19440-1
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