Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
24.08.2009
Abbildungen
IV, mit zahlreichen Abbildungen 23,5 cm
Verlag
Springer BerlinSeitenzahl
248
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/1,5 cm
Gewicht
394 g
Auflage
3. Auflage 2009
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-540-89945-7
Das Buch gibt eine Einführung in die mikroskopische Strukturanalyse von Werkstoffen, vor allem von Metallen, aber auch von Halbleitern, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Die mikroskopischen Methoden werden systematisch und vergleichend erörtert. Da Strukturen im Nanometerbereich in der Materialforschung ganz besondere Beachtung gewonnen haben, stehen die Methoden der Transmissionselektronenmikroskopie im Mittelpunkt des Buches. Zu ihnen zählen auch die Beugung zur Analyse der Struktur der Phasen sowie die Spektroskopie für die quantitative Bestimmung der Atomarten. Darüber hinaus wurden insbesondere die Lichtmikroskopie und die Rasterelektronenmikroskopie gründlich behandelt.
Das Buch eignet sich für Studierende der Werkstoffwissenschaften ebenso wie für Naturwissenschaftler und Ingenieure, die einen Einstieg in das Gebiet der Mikroskopie von metallischen, keramischen und polymeren Werkstoffen suchen. Jedes Kapitel enthält zahlreiche Abbildungen und weiterführende Literaturhinweise.
Die 3. Auflage wurde gründlich neu bearbeitet und aktualisiert.
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