Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
08.05.1989
Verlag
WileySeitenzahl
480
Maße (L/B/H)
23,5/15,7/3,2 cm
Gewicht
913 g
Auflage
2nd Revised edition
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-471-60711-3
Closely follows an actual structural determination. After some introductory material on the nature of x-rays, the diffraction process, and the internal geometry of crystals, the selection and preparation of a crystal are considered. Techniques of measuring raw x-ray data are covered, plus their reduction into a useable form. The second part discusses both traditional and novel methods of solving the phase'' problem, the principal difficulty in x-ray structure determination. The third part considers how to extract the most information from the data and how to evaluate its reliability. Finally, there is a discussion of sources of error in practice and interpretation.
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