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  • Produktbild: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

189,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

26.03.2015

Verlag

Cambridge Academic

Seitenzahl

458

Maße (L/B/H)

25/17,5/2,9 cm

Gewicht

930 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-521-48266-0

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Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

26.03.2015

Verlag

Cambridge Academic

Seitenzahl

458

Maße (L/B/H)

25/17,5/2,9 cm

Gewicht

930 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-521-48266-0

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

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  • Produktbild: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis
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  • 1. Kinematical electron diffraction; Part I. Diffraction of Reflected Electrons: 2. Reflection high-energy electron diffraction; 3. Dynamical theories of RHEED; 4. Resonance reflections in RHEED; Part II. Imaging of Reflected Electrons: 5. Imaging in TEM; 6. Contrast mechanisms of reflected electron imaging; 7. Applications of UHV REM; 8. Applications of non-UHV REM; Part III. Inelastic Scattering and Spectrometry of Reflected Electrons. 9. Phonon scattering in RHEED; 10. Valence excitation in RHEED; 11. Atomic inner-shell excitations in RHEED; 12. Novel techniques associated with reflection electron imaging; Appendix A. Physical constants, electron wavelengths and wave numbers; Appendix B. Crystal inner potential and atomic scattering factor; Appendix C.1. Crystallographic structure systems; Appendix C.2. FORTRAN program for calculating crystallographic data; Appendix D. Electron diffraction patterns of several types of crystals structures; Appendix E. FORTRAN programs; Appendix F. Bibliography of REM, SREM and REELS; References.