Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
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Sprache:Englisch
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Auflage:2006
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
03.08.2006
Herausgeber
Dit-Yan Yeung + weitereVerlag
Springer BerlinSeitenzahl
939
Maße (L/B/H)
24,1/15,7/5 cm
Gewicht
1431 g
Auflage
2006
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-540-37236-3
This is the proceedings of the 11th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR 2006 and the 6th International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR 2006, held in Hong Kong, August 2006 alongside the Conference on Pattern Recognition, ICPR 2006. 38 revised full papers and 61 revised poster papers are included, together with 4 invited papers covering image analysis, character recognition, bayesian networks, graph-based methods and more.
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