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Produktbild: Handbook of Microscopy for Nanotechnology
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Handbook of Microscopy for Nanotechnology

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

21.03.2005

Abbildungen

XX, 731 p.

Herausgeber

Nan Yao + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

731

Maße (L/B/H)

24,1/16/4,7 cm

Gewicht

1251 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4020-8003-6

Beschreibung

Rezension

From the reviews:



"Nanostructured materials have a rich variety of properties … . This complete reference provides a thorough treatment of these techniques and their applications." (Materials Today, 2005)

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Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

21.03.2005

Abbildungen

XX, 731 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

731

Maße (L/B/H)

24,1/16/4,7 cm

Gewicht

1251 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4020-8003-6

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: Handbook of Microscopy for Nanotechnology
  • Optical Microscopy, Scanning Probe Microscopy, Ion Microscopy and Nanofabrication.- Confocal Scanning Optical Microscopy and Nanotechnology.- Scanning Near-Field Optical Microscopy in Nanosciences.- Scanning Tunneling Microscopy.- Visualization of Nanostructures with Atomic Force Microscopy.- Scanning Probe Microscopy for Nanoscale Manipulation and Patterning.- Scanning Thermal and Thermoelectric Microscopy.- Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry.- Atom Probe Tomography.- Focused Ion Beam System—a Multifunctional Tool for Nanotechnology.- Electron Beam Lithography.- Electron Microscopy.- High-Resolution Scanning Electron Microscopy.- High Spatial Resolution Quantitative Electron Beam Microanalysis for Nanoscale Materials.- Characterization of Nano-Crystalline Materials Using Electron Backscatter Diffraction in the Scanning Electron Microscope.- High Resolution Transmission Electron Microscopy.- Scanning Transmission Electron Microscopy.- In-Situ Electron Microscopy for Nanomeasurements.- Environmental Transmission Electron Microscopy in Nanotechnology.- Electron Nanocrystallography.- Tomography Using the Transmission Electron Microscope.- Off-Axis Electron Holography.- SUB-NM Spatially Resolved Electron Energy-Loss Spectroscopy.- Imaging Magnetic Structures Using TEM.