Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
30.09.1994
Abbildungen
53 schwarzweisse Abbildungen
Herausgeber
John V. Gilfrich + weitereVerlag
SpringerSeitenzahl
756
Maße (L/B/H)
26/18,3/4,8 cm
Gewicht
1644 g
Auflage
1. 994
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-306-44901-7
89 articles organized under the following section heads: Impact of Computers on Xray Analysis. Applications of Whole Pattern Fitting: Structure Determination, Phase Identification, Lattice Parameters. Search/Match Methods, Phase Identification. Diffraction from Single Crystals and Epitaxial Films. Xray Characterization of Films and Surface Layers. Strain and Stress Determination, Xray Fractography, Diffraction Peak Broadening Analysis. Advances in Detectors and Counting Electronics. XRD Techniques and Instrumentation, Nonambient Applications, Texture, other Applications. Xray Optics, Monochromators and Synthetic Multilayers. Total Reflection XRF Applications and Instrumentation, other XRF Techniques and Instrumentation. Mathematical Techniques in Xray Spectrometry. Geological and other Applications of XRS. Index.
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