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  • Produktbild: Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

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96,99 € UVP 109,99 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

28.02.1995

Abbildungen

XVII, 234 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

234

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,9 cm

Gewicht

559 g

Auflage

1995

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-7923-9551-5

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Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

28.02.1995

Abbildungen

XVII, 234 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

234

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,9 cm

Gewicht

559 g

Auflage

1995

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-7923-9551-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
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  • 1 Introduction.- 1.1 Design for Quality and Manufacturability.- 1.2 Notation.- 1.3 Interpretation of Basic Concepts.- 1.4 Summary.- 2 Overview of IC Statistical Modeling.- 2.1 Introduction.- 2.2 Process Variations.- 2.3 Environmental Variations.- 2.4 Statistical Macromodeling.- 2.5 Summary.- 3 Design of Experiments.- 3.1 Introduction.- 3.2 Experiment Analysis.- 3.3 Orthogonal Arrays.- 3.4 Main Effect Analysis.- 3.5 Interaction Analysis.- 3.6 Taguchi Experiments.- 3.7 Summary.- 4 Parametric Yield Maximization.- 4.1 Introduction.- 4.2 Yield Estimation.- 4.3 Indirect Yield Improvement.- 4.4 Direct Yield Optimization Methods.- 4.5 Generalized and Orthogonal Array-Based Gradient Methods for Discrete Circuits.- 4.6 Gradient Methods for Integrated Circuits.- 4.7 Examples.- 4.8 Summary.- 5 Variability Minimization and Tuning.- 5.1 Introduction.- 5.2 Principles of Discrete Circuit Variability Minimization.- 5.3 Principles of IC Variability Minimization.- 5.4 Factor Screening.- 5.5 Taguchi’s on-target Design.- 5.6 Two-Stage Design Strategy.- 5.7 Example 4: CMOS Delay Circuit.- 5.8 Example 5: CMOS Clock Driver.- 5.9 Summary.- 6 Worst-Case Measure Reduction.- 6.1 Introduction.- 6.2 The ±? Transistor Modeling.- 6.3 Worst-Case Measure Minimization.- 6.4 Comments on the ±? Model.- 6.5 Creation of Worst-Case Models From the Statistical Model.- 6.6 Summary.- 7 Multi-Objective Circuit Optimization.- 7.1 Introduction.- 7.2 Multiple-Objective Optimization: An Overview.- 7.3 Fuzzy Sets.- 7.4 Multiple-Performance Statistical Optimization.- 7.5 Multiple-Performance Variability Minimization.- 7.6 Summary.- References.