KI-Beratung Beta
Vor Ort
Merkzettel Warenkorb

Gutscheinbedingungen

**Gültig bis 31.10.2026 ab einem Mindestbestellwert von 30€ auf Spielzeug, Schreibwaren, Filme, Geschenke & Trends, Musik, tolino eReader & Zubehör, Hörbücher und Hörbuch-Downloads, nicht preisgebundene Bücher und Kalender online auf thalia.at und in der Thalia App. Einzelne Artikel können ausgeschlossen sein. Aufgrund der Buchpreisbindung sind deutschsprachige Bücher und eBooks ausgenommen. Zusätzlich ausgenommen sind Abos & Flatrates, Games, Geschenkkarten/-boxen, Shelfies, Software, Zeitschriften sowie einzelne Artikel von tonies®. Pro Einkauf einmal einlösbar. Click & Collect nur bei Onlinevorabzahlung möglich. Keine Barauszahlung. Nicht kombinierbar mit anderen Aktionen und Gutscheinen. Gutschein wird auf max. 500€ Bestellwert angerechnet. Nicht gültig für Versandkosten und Services. Preisgebundene Artikel sind vom Mindestbestellwert ausgeschlossen.
  • Produktbild: Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
  • Produktbild: Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

109,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

28.02.1995

Abbildungen

XVII, 234 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

234

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,9 cm

Gewicht

507 g

Auflage

1995

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-7923-9551-5

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

28.02.1995

Abbildungen

XVII, 234 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

234

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,9 cm

Gewicht

507 g

Auflage

1995

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-7923-9551-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Europaplatz 3
69115 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
  • Produktbild: Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
  • 1 Introduction.- 1.1 Design for Quality and Manufacturability.- 1.2 Notation.- 1.3 Interpretation of Basic Concepts.- 1.4 Summary.- 2 Overview of IC Statistical Modeling.- 2.1 Introduction.- 2.2 Process Variations.- 2.3 Environmental Variations.- 2.4 Statistical Macromodeling.- 2.5 Summary.- 3 Design of Experiments.- 3.1 Introduction.- 3.2 Experiment Analysis.- 3.3 Orthogonal Arrays.- 3.4 Main Effect Analysis.- 3.5 Interaction Analysis.- 3.6 Taguchi Experiments.- 3.7 Summary.- 4 Parametric Yield Maximization.- 4.1 Introduction.- 4.2 Yield Estimation.- 4.3 Indirect Yield Improvement.- 4.4 Direct Yield Optimization Methods.- 4.5 Generalized and Orthogonal Array-Based Gradient Methods for Discrete Circuits.- 4.6 Gradient Methods for Integrated Circuits.- 4.7 Examples.- 4.8 Summary.- 5 Variability Minimization and Tuning.- 5.1 Introduction.- 5.2 Principles of Discrete Circuit Variability Minimization.- 5.3 Principles of IC Variability Minimization.- 5.4 Factor Screening.- 5.5 Taguchi’s on-target Design.- 5.6 Two-Stage Design Strategy.- 5.7 Example 4: CMOS Delay Circuit.- 5.8 Example 5: CMOS Clock Driver.- 5.9 Summary.- 6 Worst-Case Measure Reduction.- 6.1 Introduction.- 6.2 The ±? Transistor Modeling.- 6.3 Worst-Case Measure Minimization.- 6.4 Comments on the ±? Model.- 6.5 Creation of Worst-Case Models From the Statistical Model.- 6.6 Summary.- 7 Multi-Objective Circuit Optimization.- 7.1 Introduction.- 7.2 Multiple-Objective Optimization: An Overview.- 7.3 Fuzzy Sets.- 7.4 Multiple-Performance Statistical Optimization.- 7.5 Multiple-Performance Variability Minimization.- 7.6 Summary.- References.