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Produktbild: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

31.03.1986

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

454

Maße (L/B/H)

23,6/16/2,7 cm

Gewicht

853 g

Auflage

1986

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-42140-2

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Erscheinungsdatum

31.03.1986

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

454

Maße (L/B/H)

23,6/16/2,7 cm

Gewicht

853 g

Auflage

1986

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-42140-2

Herstelleradresse

Springer US, New York, N.Y.
Heidelberger Platz 3
14197 Berlin
Deutschland
Email: sdc-bookservice@springer.com
Fax: +49 6221 3454229

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  • 1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.