Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures Phonons, Plasmons, and Polaritons
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Sprache:Englisch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
26.11.2004
Abbildungen
XI, w. mit 77 Illustrationen
Verlag
Springer BerlinSeitenzahl
196
Maße (L/B/H)
24,2/16,2/1,7 cm
Gewicht
476 g
Auflage
2004
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-540-23249-0
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects.
A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.
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